HX80N系列
HX80N系列半自动测头站是为传感器晶圆测试定制的综合测头站，具有优异的测试精度，可与定制的仪器系统配套，完成光电传感器等传感器的测试, 压力传感器和气体传感器.
HX80N系列概述
HX80N系列半自动测头站是为传感器晶圆测试定制的综合测头站，具有优异的测试精度，可与定制的仪器系统配套，完成光电传感器等传感器的测试, 压力传感器和气体传感器.
软件功能介绍
-可以测试圆盘, 测试范围可选, 支持隔行采样和环形测试，MAP图可编辑测试;
-支持不良点复测;
-具有离线冲孔点、同步冲孔点功能;
-具有触点缓冲功能，针痕稳定;
-运行精度补偿功能，保证试验的稳定性;
-试验良率、总数、速度显示;
- CCD图像自动对准定位;
—设备具有一定的抗干扰能力, 支持高低温测试, 稳定运行;
—多bin分类测试, 可以存储测试数据, 可以导出, 兼容使用背道设备格式, 具有数据统计分析功能;
—操作员、管理员、系统厂商权限管理功能
HX80N系列技术参数
HX80N系列基本配置
半导体
IC
晶片
